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              日本理學ZSX Primus IV下照射波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)

              日本理學ZSX Primus IV下照射波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)可快速定量測定從鈹 (Be) 到鈾 (U) 的各種主要和次要原子元素樣本。 優點

              集合所有ZSX系列的優點:雙真空系統,自動真空控制,Mapping/微區分析,超輕元素超強靈敏度和自動芯線清洗等??伸`活分析復雜樣品。

              30μm超薄窗光管,保證輕元素分析靈敏度。

              最先進的Mapping包可以檢測同質性和夾雜物。

              占地面積小,使用的寶貴實驗室空間更少。

              30 μm超薄窗Mapping。

              He 密封:樣品室一直在真空環境中。

              數字多通道分析儀 (D-MCA) 系統有助于實現高計數率的高速數字處理,從而提高分析精度及效率。


              安全性

              創新的倒置光學器件配置,再也不用擔心由于樣品室維護而造成的光束路徑污染或停機時間。光學器件上置幾何結構消除了清潔的煩惱并增加了正常運行時間。


              ■ 應用領域

              固體、液體、粉末、合金和薄膜的元素分析。


              ■ 技術參數

              BeU的元素分析。

              ZSX Guidance專家系統軟件。

              數字多通道分析儀 (D-MCA)。

              用于常規測量的 EZ Analysis 接口。

              光學器件上至的方案最大限度地減少了污染問題。

              占地面積小,使用的寶貴實驗室空間更少。

              微量分析可分析小至 500 μm 的樣品。

              30μ管提供卓越的輕元件性能。

              元素地形/分布的映射功能。

              氦氣密封意味著光學器件始終處于真空狀態。


              上一個:日本理學ZSX Primus III+上照射連續波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)下一個:日本理學ZSX Primus IV上照射波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)
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